X射线荧光分析

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1895年德国科学家伦琴发现了 X射线。1923年海维赛提出厂X射线荧光分析的原理。当将试样放在原级x射线的通路上，试样中各种元素的原子被原级x射线照射后，分别发出各自的特征X射线。这种由原级X射线激发出的次级X射线，又叫荧光X射线。考试&大&荧光X射线的波长只取决于物质中原子的种类。根据荧光X射线的波长，即可确定物质的元素构成；根据该波长的荧光X射线的强度，即可定量测定所属元素的含量。这种利用荧光X射线进行分析的方沾称为X射线荧光分析。

随着X射线测量技术的发展和大功率稳定的X射线发生装置的研制成功，X射线荧光分析技术在20世纪初开始迅速发展，目前已达到先进水平，被广泛应用于合金、矿石、玻璃、陶瓷、水泥、塑料、石油等材料的成分分析。

x射线荧光分析具有下述特点：

（1）分析元素种类多。除少数几种轻元素外，元素周期表中几乎所有的元素均能使川X射线荧光分析进行测定。

（2）分析的元素浓度范围广。从常量组分到痕量杂质都能分析。

（3）可分析各种形态的试样，如固体、粉末、液体以至气体试样，且分析试样可不被破坏。

（4）分析速度快。特别是多道分析仪可在几分钟内同时测定最多28种元素的含量。

（5）谱线干扰少，结果准确。

（6）与计算机联用可实现自动分析。在生产上的在线分析中应用日益广泛，特别是在现代化水泥厂中的应川取得厂显著的效果。